高性能便攜式示波器,專為惡劣環(huán)境而設(shè)計(jì)
Fluke 190 Series III ScopeMeter® Test Tool 專為在不同的地點(diǎn)使用而設(shè)計(jì),可隨時(shí)隨地處理任何故障排除工作。這些 CAT III 1000 V/CAT IV 600V 等級測試工具將堅(jiān)固耐用的便攜性與高性能臺式示波器相結(jié)合,幫助您輕松應(yīng)對關(guān)于安裝、調(diào)試和維護(hù)工業(yè)機(jī)械、自動化/過程控制裝置以及動力轉(zhuǎn)換電子設(shè)備(從直流至 500 MHz)的挑戰(zhàn)。
選擇雙通道或四通道型號,帶寬選擇范圍廣泛。快速采樣率高達(dá) 5.0 GS/s,分辨率為 200 ps,每個(gè)通道的深度存儲器可存儲 10,000 個(gè)樣本,從而可以高精度捕獲和顯示波形細(xì)節(jié)、噪音和其它干擾?稍谌嗷蛉S控制系統(tǒng)上進(jìn)行時(shí)序或幅值相關(guān)的測量,或在被測電路上比較和對比多個(gè)測試點(diǎn)。TrendPlot™ 無紙記錄儀、ScopeRecord™ 模式、Connect-and-View™ 觸發(fā)等功能以及**的 100 屏重放功能可幫助您快速診斷問題,從而更大限度減少維修成本和停機(jī)時(shí)間。這些功能使示波器易于使用,尤其是在診斷***為困難的問題時(shí),如復(fù)雜波形、感應(yīng)噪音、間歇事件和信號波動或漂移。
- ***多四路獨(dú)立的浮動隔離輸入,高達(dá) 1000 V
- ***高 5 GS/s 實(shí)時(shí)采樣率(取決于使用的型號和通道)
- 深度存儲器: 每次捕獲波形跡線時(shí),可存儲 10,000 個(gè)點(diǎn)(示波器模式)
- 適用于工業(yè)環(huán)境的 CAT III 1000 V/CAT IV 600 V 安全儀器
- 由于采用了 BP291 電池,續(xù)航時(shí)間長達(dá)七小時(shí)
- 明亮的大型彩色顯示屏,在幾乎任何環(huán)境中都易于查看
- 易于存儲和查看歷史數(shù)據(jù),并通過 USB 或 Wifi 傳輸?shù)?PC
- 易開啟和關(guān)閉的電池蓋,可現(xiàn)場快速更換電池
- 防塵和防水等級為 IP51
- Connect-and-View 觸發(fā)功能,針對快速、慢速甚至復(fù)雜信號均能智能地自動觸發(fā)
- 頻譜使用 FFT 分析
- 100 屏自動捕獲和重放
- ScopeRecord 模式可為每個(gè)輸入通道提供 30,000 個(gè)點(diǎn),以進(jìn)行低頻信號分析
- TrendPlot 無紙記錄儀模式,具有深度存儲器,以實(shí)現(xiàn)長期自動測量
- 2 通道型號中包含 5,000 計(jì)數(shù)萬用表 (DMM)
安全測量 mV 至 kV 電壓
獨(dú)立的隔離輸入使您可以對具有不同接地參照的混合電路進(jìn)行測量,從而降低了發(fā)生意外短路的風(fēng)險(xiǎn)。傳統(tǒng)的臺式示波器沒有配備專門的差分探頭和隔離變壓器,只能使線路電源接地端作為測量參考端。福祿克190III示波表測試套裝專為涵蓋從 mV 至 kV 的各種應(yīng)用而設(shè)計(jì),因此您可以應(yīng)對從微電子應(yīng)用到重型高電壓電氣應(yīng)用的任何問題。190III 60MHz 和 100MHz 配置包括用于高電壓應(yīng)用的 VPS421 100:1 探頭,而 200MHz 和 500MHz 配置包括適用于微電子和高電壓應(yīng)用的 VPS410-II 10:1 探頭。
適用于嚴(yán)苛環(huán)境的 IP-51 防護(hù)等級
示波表測試套裝堅(jiān)固耐用且防振,適合在臟亂、危險(xiǎn)的環(huán)境中使用。配有密封的外殼,可防塵、防液滴、防潮,并抵御空氣污染。每次使用示波表測試時(shí),您均可放心使用,它會可靠地為您解決任何問題。
USB 和 Wi-Fi 連接
Fluke 190 Series III 提供兩個(gè)與測量輸入電路之間實(shí)現(xiàn)電氣隔離的 USB 端口,這使您能夠快速輕松地將數(shù)據(jù)傳輸?shù)?PC,存檔后與 OEM、同事和支持人員共享波形,或者將波形、屏幕截圖和儀器設(shè)置存儲到 USB 存儲設(shè)備上,以供將來使用。通過 U 盤輕松傳輸保存的文件,通過 USB 接口或可選 Wi-Fi 網(wǎng)絡(luò)直接連接到電腦。這些文件可用于進(jìn)一步的數(shù)據(jù)處理,或在 FlukeView-2 軟件中用于更詳細(xì)地研究波形。