美國(guó)福祿克Fluke接地電阻測(cè)試儀 Fluke 1621 接地電阻測(cè)試儀
美國(guó)福祿克Fluke接地電阻測(cè)試儀 Fluke 1621 是一款簡(jiǎn)單易用的接地測(cè)試儀。 對(duì)于接地電阻測(cè)試場(chǎng)合,1621 是檢測(cè)可靠接地連接線路的**道防線。 裝置采用多種基本的接地測(cè)試方法,其中包括三極電壓降測(cè)試法及兩極接地電阻測(cè)試法。 它的尺寸輕巧方便,擁有結(jié)實(shí)的皮套以及清晰的寬大 LCD 顯示屏,使之成為大多數(shù)電氣接地工作場(chǎng)合的理想現(xiàn)場(chǎng)接地測(cè)試儀。
產(chǎn)品特點(diǎn)
技術(shù)指導(dǎo)
常規(guī)技術(shù)指標(biāo) |
測(cè)量功能 |
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基本誤差 |
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測(cè)量速率 |
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電池 |
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電池電量狀態(tài) |
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如果電壓低于 6.5 V,則會(huì)顯示 LO-BAT(低電量) |
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電壓 |
H/C2 和 E/C1 接頭之間: |
*大 250 Veff(有效電壓) |
S/P2 和 E/C1 接頭之間: |
*大 250 Veff |
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氣候類(lèi)別 |
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VDE/VDI 3540 RZ(符合 KWG,每個(gè) DIN 40040,4/87) |
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溫度性能 |
工作: |
-10 °C 至 +50 °C(+14 °F 至 +122 °F) |
操作: |
0 °C 至 +35 °C(+32 °F 至 +95 °F) |
存儲(chǔ): |
-20 °C 至 +60 °C(+68 °F 至 +140 °F) |
參考: |
+23 °C ± 2 °C (+73 °F ± 4 °F) |
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溫度系數(shù) |
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安全 |
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IEC/EN 61010-1,600 V,II 類(lèi),2 級(jí)污染 |
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尺寸 |
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113 毫米 x 54 毫米 x 216 毫米((4.5 英寸 x 2.1 英寸 x 8.5 英寸),包括護(hù)套 |
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重量 |
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850 克(1.9 磅),包括標(biāo)準(zhǔn)附件,體積約 600 立方厘米 |
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注: |
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如果不使用測(cè)試儀,或需要長(zhǎng)期存放,請(qǐng)卸下電池并與測(cè)試儀分開(kāi)存放,以免電池泄露對(duì)測(cè)試儀造成損害。 |
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注: |
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測(cè)試儀的 4 個(gè)溫度范圍符合歐洲安全標(biāo)準(zhǔn)要求;通過(guò)使用溫度系數(shù)來(lái)計(jì)算工作環(huán)境溫度下的準(zhǔn)確度,儀器可在整個(gè)溫度范圍內(nèi)正常工作。 |
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電氣技術(shù)指標(biāo) |
*大偏差: |
E1 影響因素 |
位置 |
E1 偏差影響 |
0% |
E2 影響因素 |
電壓 |
E2 偏差影響 |
0% |
E3 影響因素 |
溫度 E3 |
E3 偏差影響 |
2.3 % |
E4 影響因素 |
串行干擾電壓 (20 V) |
E4 偏差影響 |
0.6 % |
E5 影響因素 |
探針和輔助探針電阻 |
E5 偏差影響 |
10% |
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測(cè)試電壓 |
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保護(hù)等級(jí) |
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電磁兼容性 |
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輻射: EC/EN 61326,B 類(lèi) |
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抗擾: IEC/EN 61326,附錄 C |
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RE 電阻測(cè)量 |
測(cè)量方法 |
使用改進(jìn)的串?dāng)_衰減方法進(jìn)行電流-電壓測(cè)量,無(wú)需補(bǔ)償導(dǎo)線電阻測(cè)量,使用探針(三極)或不使用探針(兩極),符合 IEC/EN 61557-5 標(biāo)準(zhǔn) |
開(kāi)放電路電壓 |
23 至 24 V ac |
短路電流 |
> 50 mA ac |
測(cè)量頻率 |
128 Hz |
*大許可過(guò)載 |
250 Veff |
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測(cè)量時(shí)間 |
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8 秒(從按“開(kāi)始起計(jì)算的平均值) |
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限制輸入 |
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即使測(cè)試儀關(guān)閉,仍會(huì)保留設(shè)定值(如果電池電量充足) |
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自動(dòng)切換分辨率 |
RH |
< 7 kΩ |
分辨率 |
0.01 Ω |
RH |
< 50 kΩ |
分辨率 |
0.1 Ω |
RH |
> 50 kΩ |
分辨率 |
1 Ω |
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干擾直流和交流電壓顯示 |
*大電壓 |
30 Veff |
共模抑制 |
> 80 dB,50 Hz 和 60 Hz |
Ri |
680 kΩ |
測(cè)量誤差 |
對(duì)于純交流電和直流電信號(hào),< 10 % |
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量程 |
0.15 Ω 至 20 Ω |
分辨率 |
0.01 Ω |
顯示范圍 |
0 至 19.99 Ω |
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200 Ω |
分辨率 |
0.1 Ω |
顯示范圍 |
20 至 199.9 Ω |
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2 kΩ |
分辨率 |
1 Ω |
顯示范圍 |
200 至 1999 Ω |
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基本誤差 |
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±(測(cè)量值的 6 % + 5 位數(shù)字) |
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操作誤差 IEC 61557 |
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±(測(cè)量值的 18 % + 5 位數(shù)字) |
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注: |
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[1] 包括影響因素 E1-E5 造成的所有偏差。
如果高探針或輔助探針電阻造成的偏差 E4 高于指定值,即會(huì)閃爍。
測(cè)量值不在指定的操作誤差范圍內(nèi)。 |
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