高精度LCR測(cè)試儀, 20Hz ~ 10MHz

LCR-8110G高精度LCR測(cè)試儀，提供高達(dá)1MHz寬廣的測(cè)量頻率范圍以及0.1%的基本精確度。另外，還包括DC電阻測(cè)量以及電壓/電流監(jiān)測(cè)功能，并搭配5.6”LCD可以同時(shí)顯示所有測(cè)試參數(shù)及結(jié)果。多步驟測(cè)試功能可以針對(duì)同一待測(cè)體一次執(zhí)行不同參數(shù)的測(cè)量，快速分析待測(cè)體的特性；并且每組編程包括30個(gè)測(cè)試步驟，每個(gè)步驟均可以設(shè)置測(cè)試參數(shù)和限制，執(zhí)行Pass/Fail判定。圖表模式功能，LCR-8110G將以圖表的形式，顯示元器件的阻抗特性隨著掃描頻率或電壓的變化所呈現(xiàn)的規(guī)律，并以曲線圖的形式顯示結(jié)果。標(biāo)準(zhǔn)配備的GPIB和RS-232C接口，可以用于設(shè)備遠(yuǎn)端控制和讀取測(cè)試結(jié)果。LCR-8110G系列豐富的特點(diǎn)讓您的測(cè)試任務(wù)變得更加簡(jiǎn)單而實(shí)用。