安裝簡便。只需要安裝傳感器探頭與控制器，即可投入使用。

※ZG2-WDC□1A型傳感器控制器的標(biāo)準(zhǔn)配置

豐富的測量項(xiàng)目

較暗涂層面和黑色橡膠等難以反射光線，其顏色、材質(zhì)使傳感器探頭受光量不足，易受到外部光線的干擾，因此以往的激光測量床干起難以測量此類物體。而ZG2具有超高靈敏度，能徹底減輕外部光線的干擾，從而一舉解決該難題。配備的APS功能，可根據(jù)周圍照明環(huán)境自動(dòng)調(diào)節(jié)感光靈敏度和背景消除水平等參數(shù)，輕松且準(zhǔn)確地再現(xiàn)形狀輪廓。實(shí)現(xiàn)高精度測量。此外，段曝光時(shí)間下也可進(jìn)行測量，從而對應(yīng)移動(dòng)物體的檢測。

※詳情請參閱APS功能（P9）、新光學(xué)系統(tǒng)ONPS（P8）。

對于反光面和透明物體等正反射較強(qiáng)的測量對象，如果稍有傾斜，光反射量就會(huì)驟減，導(dǎo)致測量變得不穩(wěn)定。而配置高性能高斯透鏡探頭的ZG2-WDS3VT課解決該問題。傾斜對應(yīng)范圍比此前型號(hào)擴(kuò)大2.5倍，可在*大±5°傾斜范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定測量。使用與檢測鏡頭與玻璃板等的組裝。

※詳情請參閱高性能高斯透鏡（P8）

可穩(wěn)定測量CCD及CMOS、水晶振動(dòng)元件的水晶片等的玻璃及表面反光零件。通過檢測基板與封裝面的高低差，完成零件的組裝檢測。

檢測鏡頭頂點(diǎn)與競價(jià)的高低差，檢查組裝結(jié)果是否正確。

同時(shí)存在黑色和金屬面的檢測物體。圓柱形和形狀復(fù)雜的物體。這些檢測對象的位置不同，其激光反射量、反射監(jiān)督也存在差異，因此很難清晰且穩(wěn)定地再現(xiàn)輪廓。歐姆龍獨(dú)有“多靈敏度感應(yīng)功能”在解決上述問題中頗受好評(píng)，且該功能變得更為強(qiáng)大。作為改進(jìn)課題之一的測量速度已得到提高，因此即便是在高速生產(chǎn)線上也能使用本產(chǎn)品。

*詳情請參閱高速多靈敏度(Catelog).

通過連接2臺(tái)控制器，并使用2臺(tái)傳感器探頭同時(shí)進(jìn)行測量，可*大將測量范圍擴(kuò)大到140MM，如果采用多臺(tái)連接測量方式，根據(jù)實(shí)際用途，歐姆龍將為用戶提供適合的連接方案實(shí)現(xiàn)*佳測量。

具有了將測量對象存在角度變化的部分識(shí)別為“彎曲點(diǎn)”的測量功能。可測量物體上特征性的高低差和寬度。

具有測量物體上兩條直線“交點(diǎn)坐標(biāo)”、“夾角”的功能。可效使用于對焊接物體進(jìn)行焊接火焰模擬控制。

“設(shè)置補(bǔ)償功能”可自動(dòng)將傳感器探頭與測量對象調(diào)整到同一水平位置。消除設(shè)置時(shí)基準(zhǔn)面與探頭間產(chǎn)生的傾斜偏差，大幅度縮短設(shè)置探頭時(shí)調(diào)整時(shí)間。

*傾斜較大時(shí)，有可能產(chǎn)生測量誤差。使用本產(chǎn)品前煩請先確認(rèn)實(shí)際使用環(huán)境中的測量精度。

3步完成基本設(shè)定。采用歐姆龍獨(dú)有界面，不僅操作簡單還能發(fā)揮

可從輪廓圖形中*多任意選取8點(diǎn)，進(jìn)行同步測試，因此能夠組合所需檢測項(xiàng)目。從寬度、高度、傾斜度、高低差、假面面積等共20種測量項(xiàng)目中針對性地組合選擇。

對于定位困難的測量對象，可對位置和傾角進(jìn)行自動(dòng)補(bǔ)償。穩(wěn)定在線測量。

全新推出數(shù)據(jù)存儲(chǔ)單元�？杀４鏈y量值和輪廓數(shù)據(jù)。通過存儲(chǔ)卡或串行通信保存到計(jì)算機(jī)中，有助于管理生產(chǎn)記錄和趨勢監(jiān)控以及分析不合格產(chǎn)品。

※ 有關(guān)*大保存容量，請查看系統(tǒng)配置的相關(guān)頁面。

可向控制器本體輸入*多16個(gè)（16個(gè)數(shù)據(jù)庫）測量條件。只需通過信號(hào)輸入/指令輸入/按鍵操作即可進(jìn)行數(shù)據(jù)庫切換。如果使用數(shù)據(jù)儲(chǔ)存單元，更可以輸入*多4096個(gè)數(shù)據(jù)庫，即使在品種繁多的生產(chǎn)線上，也可快速對應(yīng)各種測量。